dc.contributor.author	Bùi, Hoàng Hải
dc.contributor.author	Đặng, Thanh Lương (Hướng dẫn)
dc.contributor.author	Phạm, Như Tuyền (Hướng dẫn)
dc.date.accessioned	2025-10-27T02:14:34Z
dc.date.available	2025-10-27T02:14:34Z
dc.date.issued	2024
dc.description	41 tr.
dc.description.abstract	Khảo sát dữ liệu (beam profile) tại các độ sâu khác nhau để mô tả đặc trưng phân bố liều tia X trong mặt phẳng hai chiều, cho phép xác định liều bức xạ tại các điểm ngoài trục trung tâm và bên ngoài trường chiếu cho phổ tia X sử dụng trong các thiết bị soi chiếu. Kết quả của nghiên cứu cho phép xác định độ đồng đều của chùm tia và đề xuất thực hiện những điều chỉnh khi cần thiết. Ngoài ra, các bước thưc hiện khảo sát beam profile có thể được phát triển lê thành một phép kiểm tra cần thiết trong quy trình đảm bảo chất lượng cho thiết bị X quang trong chẩn đoán nói chung
dc.identifier.uri	https://repository.ntt.edu.vn/handle/298300331/684
dc.language.iso	vi_VN
dc.publisher	Đại học Nguyễn Tất Thành (Khoa Y)
dc.subject	Chùm tia
dc.subject	Máy X quang soi chiếu
dc.subject	Khoa Y
dc.title	Nghiên cứu phương pháp khảo sát dữ liệu chùm tia của máy X quang soi chiếu
dc.title.alternative	Khóa luận tốt nghiệp ngành Vật lý y khoa
dc.type	Thesis

Nghiên cứu phương pháp khảo sát dữ liệu chùm tia của máy X quang soi chiếu