Nghiên cứu phương pháp khảo sát dữ liệu chùm tia của máy X quang soi chiếu
Năm xuất bản
2024
Tác giả
Bùi, Hoàng Hải
Đặng, Thanh Lương (Hướng dẫn)
Phạm, Như Tuyền (Hướng dẫn)
Nhan đề tạp chí
ISSN
Nhan đề tập
Nhà xuất bản
Đại học Nguyễn Tất Thành (Khoa Y)
Tóm tắt
Khảo sát dữ liệu (beam profile) tại các độ sâu khác nhau để mô tả đặc trưng phân bố liều tia X trong mặt phẳng hai chiều, cho phép xác định liều bức xạ tại các điểm ngoài trục trung tâm và bên ngoài trường chiếu cho phổ tia X sử dụng trong các thiết bị soi chiếu. Kết quả của nghiên cứu cho phép xác định độ đồng đều của chùm tia và đề xuất thực hiện những điều chỉnh khi cần thiết. Ngoài ra, các bước thưc hiện khảo sát beam profile có thể được phát triển lê thành một phép kiểm tra cần thiết trong quy trình đảm bảo chất lượng cho thiết bị X quang trong chẩn đoán nói chung
Mô tả
41 tr.
Từ khóa chủ đề
Chùm tia , Máy X quang soi chiếu , Khoa Y